天瑞仪器x荧光镀层厚度测厚仪采用高度定位激光是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。
镀层厚度测厚仪产品介绍,镀层厚度测厚仪对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐。 通过鼠标可控制移动平台,只要是点击的位置就是被测点X射线光谱测厚仪应用于金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。如:贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。工作条件 光谱色散元件——光栅由德国Zeiss制造,保证优异的光谱分辨能力 技术指标 分析元素范围:从硫(S)到铀(U) ,同时检测元素:*多24个元素,多达五层镀层。检出限:可达2ppm,*薄可测试0.005μm,分析含量:一般为2ppm到99.9% 。镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%,稳定性:可达0.1%。SDD探测器:分辨率低至135eV |
镀层厚度测试仪
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- 供应商:江苏天瑞仪器股份有限公司
- 所在地:江苏苏州
价格:价格面议
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供应名称: | 镀层厚度测试仪 | 产地: | 苏州 |
规格: | 自动定位 | 单价: | 价格面议 |
最小起订量: | 0 | 供应总量: | 充足 |
阀财通指数: | 25 | 工商注册信息: | 已通过阀门网认证 |
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