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天瑞thic800a上照式鼠标定位X射线荧光测厚仪的简单介绍上照式x射线荧光测厚仪是天瑞仪器的核心产品，对5层以内的金属镀层进行厚度分析，通过鼠标点击样品位置实现自动测试功能天瑞thic800a上照式鼠标定位X射线荧光测厚仪的详细信息天瑞thic800a上照式鼠标定位X射线荧光测厚仪是检测5层以内，50微米以内的金属厚度。 开放式样品腔。 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。 双激光定位装置。 铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。 信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 高度传感器 保护传感器 计算机及喷墨打印机  黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测. 金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。  元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 分析含量一般为ppm到99.9% 。 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序 度适应范围为15℃至30℃。 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm 重量：90kg |
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