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X射线膜厚测试仪的简单介绍X射线膜厚测试仪可以对镀件膜厚测试，结果准确度高，速度快（几十秒），其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美X射线膜厚测试仪的详细信息天瑞X射线膜厚测试仪性能介绍及配置：此型号为Thick800a  详细配置信息： 一、硬件：主机壹台，含下列主要部件： (1) X光管（牛津） (2)Si-PIN电制冷半导体探测器（美国AMPTEK） (3) 信号检测电子电路 (4) 高精度二维移动平台 (5) 高清晰摄像头 (6) 高低压电源(SPELLMAN) (7) 开放式样品腔 (8）双激光定位装置 (9) 铅玻璃屏蔽罩 二、软件及其他：天瑞X射线膜厚测试仪FpThick分析软件V1.0 2.1 计算机、打印机各一台 计算机（联想，内存2G,硬盘500G液晶显示屏19寸）、Intel Pentium G3220中央处理器 打印机（佳能，彩色喷墨打印机） 2.2 资料：器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。 2.3 标准附件 准直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可选其中一种） （已内置于仪器中） 天瑞X射线膜厚测试仪产品图片：  性能描述： 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加精准 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护 天瑞X射线镀层测厚仪使用环境： 环境温度要求：15℃-30 环境相对湿度：<70% 工作电源：交流220±5V 周围不能有强电磁干扰。 天瑞X射线镀层测厚仪技术指标： 分析元素范围：K-U 同时可分析多达5层镀层 分析厚度检出限最高达0.005μm 定位精度：0.1mm 测量时间：5s-300s 计数率：0-8000cps Z轴升降范围：0-140mm X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
铜镀镍件膜厚仪测试谱图
铜镀镍件测试值 分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同） 应用领域 X荧光镀层厚度测试仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业。 天瑞仪器对X射线膜厚仪提供的售后服务体系： 软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供升级软件，如需上门升级按技术服务条款收取相关费用；免费保修1年， 免费保修期内，维修相关费用全免； 技术服务的响应期限：提供最有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。 非乙方产品自身故障所造成的现场技术服务（如增加测试功能和数据校正等），乙方将按技术服务条款收取相关费用。由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决。 |
